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详解：<i style='color:red'>薄膜电容</i>耐环境可靠性试验

详解：薄膜电容耐环境可靠性试验

温度冲击试验就是通过环境温度的快速变化，确定电容器暴露于高低温极值下，以及抗御高低温极值交替冲击的能力。温度冲击试验常采用如下条件：试验温度：-55℃～85℃；恒温时间：30分钟；转换时间：≤5分钟；循环次数：50次

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