光伏(PV)组件是用于在其生命周期内连续户外暴露的电气设备。在一些特殊的地理条件下，如：盐碱地、沿海等地，强腐蚀性的潮湿大气，终可能导致光伏组件金属部件的腐蚀和一些非金属材料的性能恶化，影响其安全性能及输出功率。
    以下文件全部或部分被引用，对于其应用是必不可少的。
    1、IEC 60068-2-52, Environmental testing – Part 2-52: Tests – Test Kb: Salt mist, cyclic ( sodium chloride solution)
    2、IEC 61215:2005, Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules–Design qualification and type approval
    3、IEC 61646:2008, Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type approval
    4、IEC 61730-2:2004, Photovoltaic (PV) module safety qualification – Part 2: Requirements for testing
    5、IEC 62108:2007, Concentrator photovoltaic (CPV) modules and assemblies – Design qualification and type approval
    6、ISO/IEC 17025, General requirements for the competence of testing and calibrationlaboratories

    1、样品要求

    3块相同的光伏组件样品，1块控制件+2块测试件。每次检测样品时，应使用控制件进行检查，以评估盐雾试验的效果。
聚光组件需要根据不同情况选择样品，非现场调节聚光点的聚光组件需要3块组件，现场调节聚光点的聚光系统需要3个接收器（如果应用，要包含二次光学部分）+3个初级光学部分，同时完成测试序列。
    如果全尺寸的样品太大，无法放入盐雾试验箱中，则可专门设计和制造较小的具有代表性的样品。具有代表性的样品应尽可能与全尺寸样品的工艺相同。事实上，测试是在有代表性的样品上而不是在全尺寸的样品上进行的。样品信息必须在测试报告中注明。
    如果光伏组件有接地装置，那么接地装置也是样品的一部分。

    2、测试过程

    预处理
    所有测试样品应根据IEC标准中规定进行预处理。
    IEC61215:＞5kWh/m2  
    IEC61646:无要求
    IEC62108:大于5-5.5kWh/m2
    初始测试
    晶体硅组件
    根据IEC 61215进行测试:
    a)10.2:功率测定  
    b)10.15:湿漏电流试验
    根据IEC 61730-2进行测试：
    c) MST 01:外观检查
    d) MST 13:接地连续性试验
    e) MST 16:绝缘耐压试验
    薄膜组件
    根据IEC 61646进行测试:
    a)10.2:功率测定  
    b)10.15:湿漏电流试验
    根据IEC 61730-2进行测试：
    c) MST 01:外观检查
    d) MST 13:接地连续性试验
    e) MST 16:绝缘耐压试验
    聚光组件（CPV）
    根据IEC 62108进行测试:
    a)10.1:外观检查  
    b)10.2:电性能测试
    c)10.3:接地连续性试验
    d)10.4:电气绝缘试验
    e)10.5:湿绝缘试验

    3、盐雾试验程序

    根据IEC 60068-2-52中所述的盐雾试验的一般条件、仪器、盐溶液的特性、严重程度和其他规格，适用于所研究的试验样品。盐雾试验的严重程度应根据安装光伏组件的地方普遍存在的大气条件来选择。
    严酷度1：组件用于海上，或者海边。
    严酷度2：不适合光伏组件，因为测试条件太弱(确实如此)。适用于经常暴露在腐蚀性环境中的产品，通常由外壳保护)，在应用本标准时应避免使用。
    严酷度3-6：组件用于含盐的干燥气氛，例如：用盐作为融冰剂。
    在测试过程中，光伏组件的表面应从盐雾试验机的垂直方向倾斜15°至30°。

    4、清洗和恢复

    在盐雾测试后，所有的样品都要清洗以去除附着的盐。清洗或干燥时，洗涤用水的温度不得超过35度。避免使用布、纱布或任何其他编织材料，不得刮擦。干燥后为避免盐沉积造成进一步损害，应尽量缩短恢复时间，并进行相应的试验。

    5、终测试

    晶体硅组件
    根据IEC 61215进行测试:
    a)10.2:功率测定  
    b) 10.15:湿漏电流试验
    根据IEC 61730-2进行测试： 
    c) MST 01:外观检查
    d) MST 13:接地连续性试验
    e) MST 16:绝缘耐压试验
    根据IEC 61701进行测试：
    f)4.2旁路二极管功能试验
    薄膜组件
    根据IEC 61646进行测试:
    a)10.6:STC下的性能
    b) 10.15:湿漏电流试验
    c) 10.19:光老化试验
    d）10.6:STC下的性能(光老化后)
    根据IEC 61730-2进行测试：
    e) MST 01:外观检查
    f) MST 13:接地连续性试验
    g) MST 16:绝缘耐压试验
    根据IEC 61701进行测试：
    h)4.2旁路二极管功能试验
    聚光组件（CPV）
    根据IEC 62108进行测试:
    a)10.1:外观检查  
    b) 10.2:电性能测试
    c)10.3:接地连续性试验
    d)10.4:电气绝缘试验
    e)10.5:湿绝缘试验
    根据IEC 61701进行测试：
    f)4.2旁路二极管功能试验

    6、判定标准

    外观：在盐雾测试后，不应有IEC 标准中所述的肉眼或视觉缺陷的迹象，包括零部件的机械损坏或腐蚀，这些损坏或腐蚀将严重影响其预期寿命。
    电性能衰减：晶体硅组件＜5%
    薄膜组件＞90%的标称功率（光老化后）
    聚光组件（CPV），室外自然光＜7%;太阳能模拟器＜5%
    注意:通过/失败的标准应该考虑实验室测量的不确定度。

    绝缘、湿漏电、接地应符合IEC 61730-2，IEC 62108中对这些特定测试的规定来完成。旁路二极管功能测试要求也应满足。

晶体硅组件盐雾腐蚀试验序列图

薄膜组件盐雾腐蚀试验序列图

    7、试验周期

    严酷度1：
    （盐雾2h+高湿度保存194h）*4个循环=7天*4个循环=28天
    严酷度2：
    （盐雾2h+高湿度保存22h）*3个循环=1天*3个循环=3天
    严酷度3:
    （盐雾2h+高湿度保存22h）*4个循环+标准气氛3天=1天*4个循环+3天=7天
    严酷度4：
    严酷度3*2个周期=14天严酷度3*2个周期=14天
    严酷度5：
    严酷度3*4个周期=28天
    严酷度6：

    严酷度3*8个周期=56天